Найти через поисковый регистр

^ Наверх
Регистрация
Логин (мин. 3 символа):*
Пароль:*
Подтверждение пароля:*
Адрес e-mail:*
Имя:
Фамилия:
Телефон:
WWW-страница (работа):

Пароль должен быть не менее 6 символов длиной.

*Поля, обязательные для заполнения.

Свидетельство на топологии интегральных микросхем

Информация обновлена:

Топология интегральной микросхемы (топология ИМС) – это зафиксированное на материальном носителе пространственно-геометрическое расположение совокупности элементов интегральной микросхемы и связей между ними.

Материальными носителями топологии ИМС могут быть:

  • бумага для чертежей;
  • фотопленка;
  • магнитный или оптический носитель с закодированной на нем информацией о топологии либо сам кристалл интегральной микросхемы (т. е. часть полупроводниковой пластины, в объеме и на поверхности которой сформированы элементы полупроводниковой микросхемы, межэлементные соединения и контакт...

    Продолжение этой статьи доступно только платным пользователям

Данный материал является частью бератора «Ответственность директора и бухгалтера».
Все статьи бератора ежедневно обновляются экспертами и всегда актуальны.
Чтобы прочитать статью полностью, нужно приобрести доступ.

Если у вас уже есть доступ, войдите в личный кабинет



< Предыдущая страница Следующая страница >